Temat: force - Prolib Integro

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Influence of dissolved gas on the interaction forces between hydrophobic surfaces in water - atomic force microscopy studies.
Autorzy:: Nalaskowski, J.
Hupka, J.
Miller, J. D
Data publikacji:: 1999
Słowa kluczowe:: hydrophobic surface force
atomic force microscopy (AFM)
dissolved gas; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: The influence of the electrical field on structures dimension measurement in electrostatic force microscopy mode
Autorzy:: Sikora, A.
Data publikacji:: 2009
Słowa kluczowe:: atomic force microscopy (AFM)
electrostatic force microscopy (EFM)
dimensions measurement accuracy; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Study of particle - bubble interaction using atomic force microscopy - current possibilities and challenges
Autorzy:: Nalaskowski, J.
Nguyen, A. V.
Hupka, J.
Miller, J. D.
Data publikacji:: 2002
Słowa kluczowe:: cząstka-pęcherzyk
oddziaływanie
mikroskop sił atomowych (AFM)
particle–bubble interaction
atomic force microscopy (AFM)
hydrophobic force
contact angle
hydrodynamic force; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Influence of macrophage activation on their capacity to bind bacterial antigens studied with atomic force microscopy
Autorzy:: Czuba, Paweł
Labuda, Aleksander
Strus, Magdalena
Marcinkiewicz, Janusz
Gamian, Andrzej
Biedroń, Rafał
Szymoński, Marek
Targosz, Marta
Data publikacji:: 2006
Słowa kluczowe:: force spectroscopy
exopolysaccharide (EPS)
macrophages
lipopolysaccharide (LPS)
atomic force microscopy (AFM); Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Mikroskopia bliskiego pola Shear Force/sił atomowych z interpretacją wyników poddanych transformacie FFT
Autorzy:: Sikora, A.
Gotszalk, T.
Szeloch, R. F.
Serafińczuk, J.
Jóźwiak, G.
Data publikacji:: 2008
Słowa kluczowe:: mikroskopia Shear Force
mikroskopia sił atomowych
mikroskopia bliskiego pola
AFM
analiza powierzchni
transformata Fouriera
shear force microscopy
atomic force microscopy (AFM)
surface analysis
Fourier transforms; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Application of the Autocorrelation Function and Fractal Geometry Methods for Analysis of MFM Images
Autorzy:: Bramowicz, M.
Kulesza, S.
Czaja, P.
Maziarz, W.
Data publikacji:: 2014
Słowa kluczowe:: atomic force microscopy (AFM)
magnetic force microscopy
magnetic domains
fractal analysis
mikroskopia sił magnetycznych
MFM
analiza fraktalna; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 7.

Tytuł:: Oddziaływania międzymolekularne zachodzące podczas odpowiedzi immunologicznej badane z wykorzystaniem spektroskopii sił AFM
Autorzy:: Targosz, Marta
Data publikacji:: 2006
Wydawca:: Uniwersytet Jagielloński w Krakowie
Słowa kluczowe:: force spectroscopy
ligand-receptor interaction
siła zerwania
ligand-receptor
spektroskopia sił atomowych
antigen-antibody
mikroskopia sił atomowych (AFM)
rupture force
macrophages
atomic force microscopy (AFM)
antygen-przeciwciało
makrofagi; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Jagiellońska Biblioteka Cyfrowa

Książka

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 8.

Tytuł:: Uncertainty of atomic force microscopy measurements
Autorzy:: Gotszalk, T.P.
Janus, P.
Marendziak, A.
Szeloch, R.F.
Data publikacji:: 2007
Słowa kluczowe:: uncertainty of measurement
atomic force microscopy (AFM); Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 9.

Tytuł:: Development of the photostimulated Kelvin Probe Force Microscopy setup. The tool for nanoscale diagnostic of optoelectrical properties of the surface
Autorzy:: Sikora, A.
Bednarz, Ł.
Data publikacji:: 2015
Słowa kluczowe:: atomic force microscopy (AFM)
Kelvin Probe Force Microscope
optical simulation
optoelectrical properties
mikroskopia sił atomowych
sonda Kelvina
symulacja optyczna; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 10.

Tytuł:: Pattern replication examined with integral geometry approach : application to ion milling of polymer blend films
Autorzy:: Czuba, P.
Rysz, Jakub
Bernasik, Andrzej
Raczkowska, Joanna
Lekka, M.
Lekki, J.
Budkowski, Andrzej
Kowalski, K.
Data publikacji:: 2005
Słowa kluczowe:: sputtering
atomic force microscopy (AFM)
surface morphology
polymers; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Artykuł

na półce

Szczegóły

Informacja

Wyszukujesz frazę "force" wg kryterium: Temat