Temat: microscopy techniques

Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)

Menu główne

Wyszukiwarka

Treść główna

Przejdź do strony domowej biblioteki Biblioteka Akademii Nauk Stosowanych w Gnieźnie Link otwiera się w nowym oknie

Prolib Integro - strona głównaBiblioteka Akademii Nauk Stosowanych w Gnieźnie

- Kontrast domyślny
- Kontrast czarno-żółty

Wybór językaPolski (PL)

English (EN)
Polski (PL)
Yкраїнський (UK)

Nowości
Informacje biblioteki

Konto

Zaloguj
Zarejestruj się
Twoja półka
Akcje
Historia wyszukiwania
Zaproponuj zakup

- Kontrast domyślny
- Kontrast czarno-żółty

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)

Przeglądasz jako GOŚĆ

Zaloguj Zarejestruj się Twoja półka Historia wyszukiwania Zaproponuj zakup

Nowości Kolekcje Informacje biblioteki

Wyszukujesz frazę "microscopy techniques" wg kryterium: Temat

Lista filtrów

Aktywne filtry:

Słowa kluczoweatomic force microscopy (AFM)

Źródło danych

Katalog biblioteki

2 Zasoby cyfrowe

Dostawca treści

2 BazTech

Rok wydania

Od:

Do:

Słowa kluczowe

2 atomic force microscopy (AFM)
2 mikroskopia sił atomowych
1 X-ray photoelectron spectroscopy
1 analiza powierzchni
1 harmonic analysis
1 measurement techniques
1 nanofiltration polymeric membranes
1 polimerowe membrany nanofiltracyjne

Pokaż wszystkie »

Autor

1 Bednarska, A.
1 Bednarz, Ł
1 Gierycz, P.
1 Grądkowski, M.
1 Kowalik-Klimczak, A.
1 Sikora, A.

Typ dokumentu

2 Artykuł

Język

2 polski

Wyrównaj

Wyświetlanie 1-2 z 2

Zaznacz

Twoja półka
Dodaj cały wynik z filtrami
Dodaj wybrane pozycje
Zapisz do pliku
Wyślij e-mail

Pytanie

Czy chcesz zapisać wybrane pozycje do pliku?

Wybierz typ zapisywanego pliku:

Wyślij e-mail

Twój adres IP 216.73.216.149 zostanie dołączony do treści wiadomości e-mail.

Adres e-mail

Wybierz typ wysyłanego pliku:

Dodawanie na półkę

Widok
Ograniczony
Prosty

Autora A-Z
Autora Z-A
Tytułu A-Z
Tytułu Z-A
Roku wydania 1-9
Roku wydania 9-1

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: System zaawansowanej analizy sygnałów do pomiaru właściwości mechanicznych powierzchni w mikroskopii sił atomowych
Autorzy:: Sikora, A.
Bednarz, Ł.
Data publikacji:: 2010
Słowa kluczowe:: mikroskopia sił atomowych
techniki pomiarowe
przetwarzanie sygnałów
atomic force microscopy (AFM)
measurement techniques
signal processing
harmonic analysis; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Analiza polimerowych membran nanofiltracyjnych za pomocą nowoczesnych technik badawczych
Autorzy:: Kowalik-Klimczak, A.
Bednarska, A.
Grądkowski, M.
Gierycz, P.
Data publikacji:: 2016
Słowa kluczowe:: polimerowe membrany nanofiltracyjne
analiza powierzchni
potencjał zeta
skaningowa mikroskopia elektronowa
mikroskopia sił atomowych
rentgenowska spektroskopia fotoelektronowa
nanofiltration polymeric membranes
surface modern research techniques
zeta potential
scanning electron microscopy
atomic force microscopy (AFM)
X-ray photoelectron spectroscopy; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Wyświetlanie 1-2 z 2

Mapa serwisu

Wybór indeksu wyszukiwawczego

Wszystkie pola Autor Tytuł Temat

Wybór języka

English (EN)Polski (PL)Yкраїнський (UK)

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Informacja

Godziny pracy Biblioteki ANS im. H. Cegielskiego

poniedziałek 8:00 – 15:30

wtorek 8:00 – 15:30

środa 8:00 – 15:30

czwartek 8:00 – 15:30

piątek 8:00 – 15:30

sobota Nieczynne

W koszyku znajdują się zamówienia

W koszyku znajdują się zamówienia do wysłania. Czy chcesz wysłać je do realizacji?

Tak Nie