- Tytuł:
- Nanomiernictwo mikro- i nanostruktur metodami mikroskopii bliskich oddziaływań
- Autorzy:
-
Gotszalk, T.
Radojewski, J.
Szeloch, R.
Marendziak, A.
Kolanek, K.
Woszczyna, M.
Masalska, A.
Grabiec, P.
Janus, P.
Rangelow, I. - Data publikacji:
- 2005
- Słowa kluczowe:
-
mikroskopia bliskich oddziaływań
mikroskopia sił atomowych
nanomiernictwo
scanning probe microscopy
atomic force microscopy (AFM)
nanometrology - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech