- Tytuł:
- Podstawy mikroskopii sił atomowych w badaniach polimerów
- Autorzy:
-
Żenkiewicz, M.
Plański, J. - Data publikacji:
- 1999
- Słowa kluczowe:
-
mikroskop sił atomowych
budowa
rodzaje badanych oddziaływań
systemy pracy
zastosowanie
ograniczenia badawcze
źródła błędów pomiaru
atomic force microscope (AFM)
types of interactions examined
work system
applications
research limitations
error sources - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech
Artykuł