Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "burn-in tests" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-3 z 3
Tytuł:
Materiały Elektroniczne 2012 T.40 nr 1
Badania degradacji diod laserowych na pasmo 880 nm
Badania degradacji diod laserowych na pasmo 880 nm = The investigation of degradation of laser diodes emitting at 880 nm band
Autorzy:
Dąbrowska Elżbieta
Współwytwórcy:
Teodorczyk Marian
Nakielska Magdalena
Romaniec Magdalena
Sobczak Grzegorz
Maląg Andrzej
Data publikacji:
2012
Wydawca:
ITME
Słowa kluczowe:
degradation
badania starzeniowe
heterostructure
burn-in tests
Electronic - materials
Materiały elektroniczne
heterostruktura
dioda laserowa
Electronic - journal - materials
nioezawodność diody laserowej
Elektronika - czasopismo - materiały
laser diode
Pokaż więcej
Dostawca treści:
RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych
Książka
    Wyświetlanie 1-3 z 3

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies