- Tytuł:
- Wykorzystanie mikroskopu sił atomowych w trybie stałego prądu do badania materiałów przewodzących i tlenkowych
- Autorzy:
-
Gajewski, K.
Gotszalk, T.
Wielgoszewski, G. - Data publikacji:
- 2011
- Słowa kluczowe:
-
cienkie warstwy tlenkowe
HOPG
AFM
C-AFM
tryb stałoprądowy C-AFM
thin oxide films
constant current C-AFM - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech