- Tytuł:
- Probe capacitance-dependent systematic error in I-V measurements of nanowires: analysis and correction
- Autorzy:
- Wawrzyniak, M.
- Data publikacji:
- 2007
- Słowa kluczowe:
-
nanotechnology
nanowires
quantum point contacts
conductance quantization
conductance measurements
current-voltage curves - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech