- Tytuł:
- Universal Address Sequence Generator for Memory Built-in Self-test
- Autorzy:
-
Mrozek, Ireneusz
Shevchenko, Nikolai A.
Yarmolik, Vyacheslav N. - Data publikacji:
- 2022
- Słowa kluczowe:
-
antirandom tests
controlled random tests
multiple tests
RAM testing - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech