- Tytuł:
- Zastosowanie metod inteligencji obliczeniowej do analizy struktury defektowej półprzewodników wysokorezystywnych
- Autorzy:
-
Jankowski, S.
Kamiński, P.
Kozłowski, R.
Szymański, R.
Będkowski, J. - Data publikacji:
- 2009
- Słowa kluczowe:
-
maszyna wektorów nośnych SVM
maszyna wektorów istotnych RVM
niestacjonarna spektroskopia fotoprądowa PITS
centra defektowe
materiały półizolujące
support vector machine (SVM)
relevance vector machine RVM
photoinduced transient spectroscopy (PITS)
defect centres
semi-insulating materials - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech
Artykuł