- Tytuł:
- Design for reliability: delay faults modeling and simulation for CMOS flip-flops
- Autorzy:
-
Cai, H.
Liu, K.
An, T.
Naviner, L. - Data publikacji:
- 2014
- Słowa kluczowe:
-
aging mechanism
process variations
flip-flops
delay faults
mechanizm starzenia
zmiany procesu
przerzutnik
uszkodzenia opóźnieniowe - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech
Artykuł