- Tytuł:
- Reliability demonstration test model for binomial systems with reliability growth
- Autorzy:
-
Wu, X.
Liu, Q. - Data publikacji:
- 2010
- Słowa kluczowe:
-
system dwumianowy
badanie potwierdzające
dyskretny model wzrostu niezawodności
binomial system
demonstration test
discrete reliability growth model - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech
Artykuł