Wszystkie pola: molecular depth profiling

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: How material properties affect depth profiles : insight from computer modeling
Autorzy:: Paruch, Robert J.
Postawa, Zbigniew
Garrison, Barbara J.
Data publikacji:: 2014
Słowa kluczowe:: sputtering model
cluster sputtering
depth profiling
molecular dynamics
computer modeling; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Mixed MD simulation – analytical model analysis of Ag(111), C_{60} repetitive bombardment in the context of depth profiling for dynamic SIMS
Autorzy:: Postawa, Zbigniew
Garrison, Barbara J.
Paruch, Robert
Data publikacji:: 2013
Słowa kluczowe:: depth profiling
cluster bombardment
dynamic SIMS
molecular dynamics
analytical model; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Combined molecular dynamics and analytical model for repetitive cluster bombardment of solids
Autorzy:: Paruch, Robert
Postawa, Zbigniew
Garrison, Barbara J.
Data publikacji:: 2013
Słowa kluczowe:: secondary ion mass spectrometry
depth profiling
steady-state statistical sputtering model
molecular dynamics
sputtering; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Molecular dynamics computer simulations of $5 keV C_{60}$ bombardment of benzene crystal
Autorzy:: Postawa, Zbigniew
Garrison, Barbara J.
Czerwiński, Bartłomiej
Paruch, Robert
Rzeźnik, Łukasz
Data publikacji:: 2009
Słowa kluczowe:: cluster projectiles
organic material
molecular dynamics computer simulations
SIMS/SNMS
depth profiling
sputtering; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Inne

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Modelowanie profilowania głębokościowego kryształów wiązką pocisków C60 i Au3
Autorzy:: Paruch, Robert
Data publikacji:: 2012
Wydawca:: Uniwersytet Jagielloński w Krakowie
Słowa kluczowe:: profilowanie głębokościowe
SIMS
depth profiling
dynamika molekularna
cluster projectiles
molecular dynamics
pociski klastrowe; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Jagiellońska Biblioteka Cyfrowa

Książka

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Modelowanie profilowania głębokościowego kryształów wiązką pocisków $C_{60}$ i $Au_{3}$
Computer modelling of crystal sample depth profiling with $C_{60}$ and $Au_{3}$ projectile beams
Autorzy:: Paruch, Robert
Współwytwórcy:: Postawa, Zbigniew
Data publikacji:: 2012-09-25
Słowa kluczowe:: dynamika molekularna
SIMS
profilowanie głębokościowe
molecular dynamics
pociski klastrowe
cluster projectiles
depth profiling; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Książka

Szczegóły

Informacja