- Tytuł:
- Badanie wybranych warstw optycznych mikroskopem sił atomowych i metodami komplementarnymi.
- Autorzy:
-
Ciosek, J.
Pankowski, P.
Paszkowicz, W.
Pełka, J.B.
Marczak, J.
Ostrowski, R.
Baczewski, L.T. - Data publikacji:
- 2001
- Słowa kluczowe:
-
warstwa optyczna
mikroskop sił atomowych
metody komplementarne
dielektryczne warstwy z materiałów tlenkowych
mikrostruktura
optical-layers
atomic force microscopy (AFM)
complementary methods
dielectric oxide layers
microstructure - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech
Artykuł