Temat: electrostatic force microscopy

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "electrostatic force microscopy" wg kryterium: Temat

Wyświetlanie 1-1 z 1

Zaznacz

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: The influence of the electrical field on structures dimension measurement in electrostatic force microscopy mode
Autorzy:: Sikora, A.
Data publikacji:: 2009
Słowa kluczowe:: atomic force microscopy (AFM)
electrostatic force microscopy (EFM)
dimensions measurement accuracy; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Wyświetlanie 1-1 z 1

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Informacja

Wyszukujesz frazę "electrostatic force microscopy" wg kryterium: Temat