- Tytuł:
- Wyznaczanie profilu koncentracji nośników i domieszek w strukturach 2DEG na bazie GaN
- Autorzy:
-
Jung, W.
Gołaszewska, K.
Żytkiewicz, Z. R.
Sobańska, M.
Kłosek, K. - Data publikacji:
- 2011
- Słowa kluczowe:
-
GaN
struktury 2DEG
koncentracja nośników
koncentracja domieszek
sonda rtęciowa
2DEG structures
carrier concentration
dopant concentration
mercury probe - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech
Artykuł