Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "electrical circuits" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-7 z 7
Tytuł:
Wykorzystanie klasyfikatora z dwucentrowymi funkcjami bazowymi do diagnostyki uszkodzeń części analogowych elektronicznych systemów wbudowanych
Autorzy:
Czaja, Z.
Kowalewski, M.
Zielonko, R.
Data publikacji:
2011
Słowa kluczowe:
klasyfikatory neuronowe
mikrokontrolery
układy analogowe
elektrotechnika
elektroenergetyka
neural classifiers
microcontrollers
analog circuits
electrical technology
electrical power engineering
Pokaż więcej
Dostawca treści:
BazTech
Artykuł
Artykuł
Tytuł:
Testowanie funkcjonalne analogowych układów elektronicznych z wykorzystaniem aproksymacji specyfikacji w przestrzeni cech odpowiedzi układu testowanego
Autorzy:
Jantos, P.
Golonek, T.
Rutkowski, J.
Data publikacji:
2011
Słowa kluczowe:
triangulacja Delaunaya
testowanie funkcjonalne
analogowy układ elektroniczny
sztuczna sieć neuronowa
elektrotechnika
elektroenergetyka
Delaunay's triangulation
specification driven test
analogue electronic circuits
neural classifier
electrical technology
electrical power engineering
Pokaż więcej
Dostawca treści:
BazTech
Artykuł
    Wyświetlanie 1-7 z 7

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies