- Tytuł:
- Diagnostyka uszkodzeń analogowych we wbudowanych systemach elektronicznych z wykorzystaniem interpretera logiki rozmytej
- Autorzy:
-
Czaja, Z.
Załęski, D. - Data publikacji:
- 2007
- Słowa kluczowe:
-
detekcja uszkodzeń
lokalizacja uszkodzeń
samotestowanie
BIST
elektroniczne systemy wbudowane
mikrokontrolery
fault detection and localisation
self-testing
electronic embedded systems
microcontrollers - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech