- Tytuł:
- Ellipsometry based spectroscopic complex for rapid assessment of the Bi2Te3-xSexthin films composition
- Autorzy:
-
Kovalev, Vladimir
Uvaysov, Saygid
Bogucki, Marcin - Data publikacji:
- 2021
- Słowa kluczowe:
-
thin films
optical properties
spectroscopy
Fourier transform
ellipsometry
polarimetry
optics on surfaces
instrumentation
measurement and metrology
cienka warstwa
właściwości optyczne
spektroskopia
transformata Fouriera
elipsometria
polarymetria
optyka cienkowarstwowa
oprzyrządowanie
pomiary i metrologia - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech
Artykuł