- Tytuł:
- Zastosowanie metody DLTS do badania głębokich centrów defektowych w warstwach epitaksjalnych wieloskładnikowych związków AIIIBV
- Autorzy:
-
Kozłowski, R.
Kamiński, P. - Data publikacji:
- 1998
- Słowa kluczowe:
-
epitaksja
MOCVD
epitaxy - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech