Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Extraction Parameters" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-2 z 2
Tytuł:
Studies of the feasibility of using global and local optimization methods in MOSFET characterization
Autorzy:
Arabas, J.
Szostak, S.
Łukasiak, L.
Jakubowski, A.
Data publikacji:
2008
Słowa kluczowe:
optymalizacja globalna i lokalna
algorytm ewolucyjny
metoda Neldera-Meada
strutury MOS
ekstrakcja parametrów
global and local optimization
evolutionary computation
Nelder-Mead method
MOSFED structure
extraction of parameters
Pokaż więcej
Dostawca treści:
BazTech
Artykuł
    Wyświetlanie 1-2 z 2

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies