Temat: lokalizacja uszkodzeń

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Wejściowo-wyjściowa metoda detekcji uszkodzeń w elektronicznych układach analogowych uwzględniająca tolerancje elementów
Autorzy:: Czaja, Z.
Data publikacji:: 2004
Słowa kluczowe:: detekcja uszkodzeń
lokalizacja uszkodzeń
analogowy układ elektroniczny
fault detection
fault localization
analog electronic circuits; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Lokalizacja zwarć i przerw w procesie produkcji kabli i przewodów
Autorzy:: Mrożek, S.
Data publikacji:: 2008
Słowa kluczowe:: produkcja kabli i przewodów
lokalizacja uszkodzeń
production of cables and conductors
fault localization; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Implementacja metody diagnostycznej opartej na wielokrotnym próbkowaniu odpowiedzi czasowej w mieszanym sygnałowo mikrosystemie elektronicznym
Autorzy:: Czaja, Z.
Data publikacji:: 2011
Słowa kluczowe:: lokalizacja uszkodzeń
mikrokontrolery
układy analogowe
elektrotechnika
fault localization
microcontrollers
analog circuits
electrical engineering
electrotechnics; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Advantages and disadvantages of using cepstrum, envelope spectrum and bispectrum for multistage gearbox diagnostic
Autorzy:: Bartelmus, W.
Zimroz, R.
Data publikacji:: 2004
Słowa kluczowe:: analiza sygnałów
przetwarzanie sygnałów
wnioskowanie diagnostyczne
lokalizacja uszkodzeń
wykrywanie uszkodzeń
signal analysis
signal processing
diagnostic inference
fault detection
fault localization; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Diagnosis of hybrid systems through bond graph, observers and timed automata
Autorzy:: Mhamdi, Lotfi
Achbi, Mohammed Said
Dhouibi, Hedi
Kechida, Sihem
Data publikacji:: 2020
Słowa kluczowe:: bond graph
observer
timed automata
fault diagnosis
fault localization
grafy wiązań
obserwator
automat czasowy
błędna diagnoza
lokalizacja uszkodzeń; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: On application of polynominal algebra for identification of dynamic faults in interconnects
Autorzy:: Kopeć, M.
Garbolino, T.
Gucwa, K.
Hławiczka, A.
Data publikacji:: 2008
Słowa kluczowe:: testowanie połączeń
lokalizacja uszkodzeń
identyfikacja uszkodzeń
interconnect tests
built-in self tests
interconnect BIST
Chinese remainder theorem
fault localization
fault identification; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 7.

Tytuł:: Models in diagnostics of industrial processes
Autorzy:: Kościelny, J. M.
Bartyś, M.
Data publikacji:: 2004
Słowa kluczowe:: modelowanie
diagnostyka procesów przemysłowych
detekcja uszkodzeń
lokalizacja uszkodzeń
sztuczna inteligencja
modelling
diagnostics of industrial processes
fault detection
fault localization
artificial intelligence
soft computing; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 8.

Tytuł:: Zastosowanie liniowych rejestrów pierścieniowych do testowania połączeń w układach FPGA
Autorzy:: Hławiczka, A.
Gucwa, K.
Garbolino, T.
Data publikacji:: 2008
Słowa kluczowe:: liniowy rejestr pierścieniowy
testowanie połączeń
lokalizacja uszkodzeń
identyfikacja uszkodzeń
sygnatura
słownik diagnostyczny
układ FPGA
ring linear feedback shift register
interconnect testing
fault localization
fault identification
signature
fault dictionary
field programmable gate array (FPGA); Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 9.

Tytuł:: On the use of multi-signature analysis for interconnect test
Autorzy:: Garbolino, T.
Kopeć, M.
Gucwa, K.
Hławiczka, A.
Data publikacji:: 2006
Słowa kluczowe:: testowanie połączeń
wykrywanie
lokalizacja i identyfikacja uszkodzeń
kompakcja odpowiedzi testowej
rejestr MISR
analiza wielosygnaturowa
testowanie układu z jego nominalną częstotliwością pracy
metoda testowania typu „test-per-clock”
interconnect test
fault detection
fault localization
fault identification
test response compaction
MISR
signature
multisignature analysis
at-speed testing
test-per-clock testing scheme
T-type flip-flop; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Informacja