- Tytuł:
- Surface micromorphology characterization of PDI8-CN2 thin films on H-Si by AFM analysis
- Autorzy:
-
Ţălu, Ştefan
Kulesza, Slawomir
Bramowicz, Miroslaw
Solaymani, Shahram
Ţălu, Mihai
Nezafat, Negin Beryani
Rezaee, Sahar - Data publikacji:
- 2020
- Słowa kluczowe:
-
perylene diimide derivatives
PDI8-CN2 thin films
fractal analysis
surface micromorphology - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech