- Tytuł:
- Rentgenowska metoda określania profilu składu chemicznego w heterostrukturach GaN/InGaN otrzymywanych metodą MOCVD na podłożu szafirowym
- Autorzy:
-
Wójcik, M.
Strupiński, W.
Rudziński, M.
Gaca, J. - Data publikacji:
- 2012
- Słowa kluczowe:
-
HRXRD
heterostruktura
interfejs
GaN
InGaN
heterostructure
interface - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech