- Tytuł:
- Charge pumping characterization of MISFETs with SiO2/BaTiO3 as a gate stack
- Autorzy:
-
Firek, P.
Głuszko, G.
Łukasiak, L.
Szmidt, J.
Jakubowski, A.
Sochacki, M. - Data publikacji:
- 2014
- Słowa kluczowe:
-
charge pumping
high-k
MISFET structures
barium titanate
metoda pompowania ładunku
przenikalność elektryczna
tranzystor MESFET
tytanian baru - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech
Artykuł