- Tytuł:
- Particle measurement in scanning electron microscopy images
- Autorzy:
-
Cuesta-Frau, D.
Hernández-Fenollosa, M. A.
Vicedo-Payá, J.
Jiménez-López, F. - Data publikacji:
- 2006
- Słowa kluczowe:
-
image processing
edge detection
pattern matching - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech