Wszystkie pola: interferometry method - Prolib Integro

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "interferometry method" wg kryterium: Wszystkie pola

Wyświetlanie 1-6 z 6

Zaznacz

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Determination of optical field generated by a microlens using digital holographic method
Autorzy:: Kozacki, T.
Józwik, M.
Jóźwicki, R.
Data publikacji:: 2009
Słowa kluczowe:: holography
interferometry
microlenses; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Theoretical analysis of a new approach to order determination for a modified Prony method in swath mapping application
Autorzy:: Grall, P.
Marszal, J.
Data publikacji:: 2017
Słowa kluczowe:: swath bathymetry
interferometry
principal components
DOA
MBES; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Wavelet transform method of phase-step determination
Autorzy:: Hu, Y. J.
Sheu, J. Y.
Lee, J. C.
Wu, Y. F.
Data publikacji:: 2012
Słowa kluczowe:: continuous wavelet transform (CWT)
interferometry
phase measurement
fringe pattern; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Pomiary długich płytek wzorcowych na zmodernizowanym stanowisku pomiarowym z interferometrem laserowym
Autorzy:: Szumski, R.
Data publikacji:: 2013
Słowa kluczowe:: wzorce końcowe
długie płytki wzorcowe
komparator interferencyjny
interferencyjna metoda reszt ułamkowych
end standards
long gauge blocks
interferometry
method of exact fractions; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Niepewność pomiaru długich płytek wzorcowych na zmodernizowanym komparatorze interferencyjnym
Autorzy:: Szumski, R.
Data publikacji:: 2014
Słowa kluczowe:: długie płytki wzorcowe
interferencja
światło białe
metoda reszt ułamkowych
niepewność pomiaru
end standards
long gauge blocks
interferometry
method of exact fractions; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Pomiary naprężeń w strukturach MOS metod interferencyjną i za pomocą elipsometrii spektroskopowej
Autorzy:: Borowicz, L. K.
Borowicz, P.
Rzodkiewicz, W.
Piskorski, K.
Data publikacji:: 2007
Słowa kluczowe:: struktury MOS
naprężenie
interferometria
elipsometria
parametry elektryczne
Metal Oxide Semiconductor
MOS structures
stress
interferometry
ellipsometry
electrical parameters; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Wyświetlanie 1-6 z 6

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies