- Tytuł:
- Roughness of amorphous Zn-P thin films
- Autorzy:
-
Jarząbek, B.
Jurusik, J.
Cisowski, J.
Nowak, M. - Data publikacji:
- 2001
- Słowa kluczowe:
-
amorphous state
atomic force microscopy (AFM)
AMF
Gaussian distribution
infrared spectra
light interference
optical films
reflectivity
thin films
zinc compounds - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech