- Tytuł:
- Wrażliwość odpowiedzi na skok jednostkowy na zmiany parametrów RLC połączeń w układach VLSI
- Autorzy:
-
Waradzińska, A.
Bandurski, W. - Data publikacji:
- 2010
- Słowa kluczowe:
-
modelowanie połączeń
układy VLSI
linia transmisyjna RLC
wrażliwość
interconnect modeling
VLSI system
RLC transmission
sensitivity - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech
Artykuł