Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "measurement and processing" wg kryterium: Wszystkie pola


Wyświetlanie 1-6 z 6
Tytuł:
Zastosowanie wielosensorowego systemu pomiarowego do monitorowania procesu skrawania – przypadek sekwencyjnych procesów toczenia i nagniatania
Autorzy:
Bartoszuk, Marian
Grzesik, Wit
Chudy, Roman
Data publikacji:
2021
Słowa kluczowe:
machining process
measurement system
signal processing
monitoring
process optimization
proces obróbki
system pomiarowy
przetwarzanie sygnałów
optymalizacja procesów
Pokaż więcej
Dostawca treści:
BazTech
Artykuł
Tytuł:
Modelowanie i implementacja układu sekwencera sygnałów ładunkowych z detektora GEM dla szybkiego systemu diagnostyki gorącej plazmy tokamakowej
Autorzy:
Kolasiński, P.
Późniak, K.
Czarski, T.
Chernyshova, M.
Gąska, M.
Linczuk, P.
Kasprowicz, G.
Krawczyk, R.
Wojeński, A.
Zabołotny, W.
Data publikacji:
2018
Słowa kluczowe:
układy sortujące
FPGA
Matlab
tokamak
plazma
detektor GEM
diagnostyka
system pomiarowy
szybka akwizycja danych
HDL
przetwarzanie danych
sorting algorithms
plasma
GEM detector
diagnostics
measurement system
fast data acquisition
data processing
Pokaż więcej
Dostawca treści:
BazTech
Artykuł
    Wyświetlanie 1-6 z 6

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies