Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Micro-Raman spectroscopy" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-7 z 7
Tytuł:
Badania właściwości struktur MOS na SiC dla wybranych rozwiązań technologiczno-konstrukcyjnych
Autorzy:
Gutt, T.
Piskorski, K.
Przewłocki, H. M.
Borowicz, P.
Data publikacji:
2012
Słowa kluczowe:
węglik krzemu
SiC
kontaktowa różnica potencjałów
bariery potencjału
napięcie wyprostowanych pasm
spektroskopia mikroramanowska
silicon carbide
contact potential difference
potential barriers
flat-band voltage
micro-Raman spectroscopy
Pokaż więcej
Dostawca treści:
BazTech
Artykuł
    Wyświetlanie 1-7 z 7

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies