Temat: atomic force microscope

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Reconstruction of thin films polyazomethine based on microscopic images
Autorzy:: Weszka, J.
Szindler, M.
Śliwa, A.
Hajduk, B.
Jurusik, J.
Data publikacji:: 2011
Słowa kluczowe:: mikroskopia sił atomowych
skaningowy mikroskop elektronowy
oprogramowanie WSxM
atomic force microscope
scanning electron microscope
WSxM software; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Surface morphology and optical properties of Al₂O₃ thin films deposited by ALD method
Autorzy:: Dobrzański, L. A.
Szindler, M.
Szindler, M.M.
Data publikacji:: 2015
Słowa kluczowe:: thin film
aluminum oxide
atomic force microscope
spectroscopic ellipsometry
cienka powłoka
tlenek glinu
mikroskopia sił atomowych
elipsometria spektroskopowa; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Sol-gel Al2O3 antireflection coatings for silicon solar cells
Autorzy:: Dobrzański, L.A.
Szindler, M.
Szindler, M.M.
Hajduk, C.
Data publikacji:: 2014
Słowa kluczowe:: thin films
aluminium oxide
atomic force microscope
spectroscopic ellipsometry
spectroscopy UV/VIS
cienkie powłoki
tlenek glinu
mikroskopia sił atomowych
spektroskopia elipsometryczna
spektroskopia UV-VIS; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Mikroskopia Sił Atomowych (AFM)
Autorzy:: Kruk, T.
Data publikacji:: 2013
Słowa kluczowe:: mikroskopia sił atomowych
AFM
mikroskop AFM
atomic force microscopy (AFM)
AFM microscope; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Development of the photostimulated Kelvin Probe Force Microscopy setup. The tool for nanoscale diagnostic of optoelectrical properties of the surface
Autorzy:: Sikora, A.
Bednarz, Ł.
Data publikacji:: 2015
Słowa kluczowe:: atomic force microscopy (AFM)
Kelvin Probe Force Microscope
optical simulation
optoelectrical properties
mikroskopia sił atomowych
sonda Kelvina
symulacja optyczna; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Erytrocyte membrane change due to the chemical treatment studied with atomic force microscopy
Zastosowanie mikroskopii sił atomowych do badań zmian w błonie erytrocytów wywołanych czynnikami chemicznymi
Autorzy:: Rumian, Roman
Pietrzyk, Jacek
Krawentek, Lidia
Miklaszewska, Monika
Szymoński, Marek
Sułowicz, Władysław
Czuba, Paweł
Targosz-Korecka, Marta
Data publikacji:: 2009
Słowa kluczowe:: nifedypina
erythrocytes
nifedipine
echinocytes
scanning electron microscope
mikroskopia sił atomowych
skaningowy mikroskop elektronowy
echinocyty
atomic force microscopy
erytrocyty; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Artykuł

Szczegóły

Informacja