- Tytuł:
- Development of the photostimulated Kelvin Probe Force Microscopy setup. The tool for nanoscale diagnostic of optoelectrical properties of the surface
- Autorzy:
-
Sikora, A.
Bednarz, Ł. - Data publikacji:
- 2015
- Słowa kluczowe:
-
atomic force microscopy (AFM)
Kelvin Probe Force Microscope
optical simulation
optoelectrical properties
mikroskopia sił atomowych
sonda Kelvina
symulacja optyczna - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech