- Tytuł:
- Measurement of the thickness of the oxygen-depleted layer in the Ag/YBa2Cu3O7-x/Ag structures of the electro-resistance memory
- Autorzy:
- Waśkiewicz, J.
- Data publikacji:
- 2018
- Słowa kluczowe:
-
high-temperature superconductors
phenomenon of electro-resistive memory
switching voltage
oxygen-ion electrodiffusion
depleted layer
nadprzewodniki wysokotemperaturowe
zjawisko pamięci elektrorezystancyjnej
napięcie przełączania
elektrodyfuzja jonów tlenu
warstwa zubożona - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech
Artykuł