Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Critical Analysis" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-9 z 9
Tytuł:
Badanie numeryczne wpływu imperfekcji technologicznych na obciążenia krytyczne i pracę zakrytyczną cienkich płyt i powłok
Autorzy:
Gołoś, K.
Jachimowicz, J.
Ruszkowski, P.
Techmański, T.
Data publikacji:
2002
Słowa kluczowe:
cienka płyta
cienka powłoka
obciążenie krytyczne
praca zakrytyczna
imperfakcje technologiczne
analiza numeryczna
thin boards
thin coats
critical weight
overcritical work
technological imperfactions
numerical analysis
Pokaż więcej
Dostawca treści:
BazTech
Artykuł
    Wyświetlanie 1-9 z 9

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies