Temat: instrumentation measurement

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "instrumentation measurement" wg kryterium: Temat

Wyświetlanie 1-5 z 5

Zaznacz

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Wavelet transform applications in instrumentation and measurement: tutorial & literature survey
Autorzy:: Zieliński, T.
Data publikacji:: 2004
Słowa kluczowe:: transformacja falkowa
zastosowania
oprzyrządowanie
pomiary
wavelet transform
applications
instrumentation
measurement; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Bagatokanalnij intelektualizovanij zasib vimirûvannâ
Autorzy:: Ivakhiv, O.
Data publikacji:: 2002
Słowa kluczowe:: układ wielokanałowy
oprzyrządowanie
sygnał pomiarowy
MATLAB
multichannel system
instrumentation
measurement signal; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Reliability of stiffness measurement device during passive isokinetic spastic wrist movements of healthy subjects and hemiplegics
Autorzy:: Orand, A.
Miyasaka, H.
Takeda, K.
Tanino, G.
Chihara, T.
Beppu, H.
Sonoda, S.
Data publikacji:: 2017
Słowa kluczowe:: mechatronics
instrumentation
torque measurement
spasticity
mechatronika
oprzyrządowanie
pomiar momentu
spastyczność; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: A backup orientation system based on inverse problems technique
Autorzy:: Nenarokomov, Aleksey V.
Chebakov, Evgeny V.
Krainova, Irina V.
Reviznikov, Dmitry L.
Morzhukhina, Alena V.
Data publikacji:: 2019
Słowa kluczowe:: computational method
measurement
instrumentation
radiation
inverse problem
or-bital spacecraft
orientation
metoda obliczeniowa
pomiar
oprzyrządowanie
promieniowanie
problem odwrotny
orbitalny statek kosmiczny
orientacja; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Ellipsometry based spectroscopic complex for rapid assessment of the Bi2Te3-xSexthin films composition
Autorzy:: Kovalev, Vladimir
Uvaysov, Saygid
Bogucki, Marcin
Data publikacji:: 2021
Słowa kluczowe:: thin films
optical properties
spectroscopy
Fourier transform
ellipsometry
polarimetry
optics on surfaces
instrumentation
measurement and metrology
cienka warstwa
właściwości optyczne
spektroskopia
transformata Fouriera
elipsometria
polarymetria
optyka cienkowarstwowa
oprzyrządowanie
pomiary i metrologia; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Wyświetlanie 1-5 z 5

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Informacja

Wyszukujesz frazę "instrumentation measurement" wg kryterium: Temat