Temat: ellipsometry - Prolib Integro

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "ellipsometry" wg kryterium: Temat

Wyświetlanie 1-4 z 4

Zaznacz

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Synchrotron-based VUV spectroscopic ellipsometry system in application to optical properties studies of wide-bandgap materials for optoelectronics
Autorzy:: Dorywalski, K.
Patryn, A.
Andriyevsky, B.
Cobet, C.
Esser, N.
Data publikacji:: 2014
Słowa kluczowe:: VUV ellipsometry
synchrotron
SBN
optical properties
VUV elipsometrii
własności optyczne; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Characterization of optical and electrical properties of transparent conductive boron-doped diamond thin films grown on fused silica
Autorzy:: Bogdanowicz, R.
Data publikacji:: 2014
Słowa kluczowe:: CVD
boron-doped diamond
optical properties
optical coatings
spectroscopic ellipsometry; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Characterization of a-C:N:H, a-SiNx:H and a-SiCx:Ny:H layers deposited on various substrates
Autorzy:: Dyndał, K.
Data publikacji:: 2018
Słowa kluczowe:: PACVD
amorphous layer
spectroscopic ellipsometry
optical properties
warstwy amorficzne
elipsometria spektroskopowa
właściwości optyczne; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Ellipsometry based spectroscopic complex for rapid assessment of the Bi2Te3-xSexthin films composition
Autorzy:: Kovalev, Vladimir
Uvaysov, Saygid
Bogucki, Marcin
Data publikacji:: 2021
Słowa kluczowe:: thin films
optical properties
spectroscopy
Fourier transform
ellipsometry
polarimetry
optics on surfaces
instrumentation
measurement and metrology
cienka warstwa
właściwości optyczne
spektroskopia
transformata Fouriera
elipsometria
polarymetria
optyka cienkowarstwowa
oprzyrządowanie
pomiary i metrologia; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Wyświetlanie 1-4 z 4

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Informacja

Wyszukujesz frazę "ellipsometry" wg kryterium: Temat