- Tytuł:
-
Ilościowa mikroanaliza rentgenowskaiwrwiastków lekkich. Porównanie wyników metod korekcyjnych
Materiały Elektroniczne 1987 nr 3(59)
Ilościowa mikroanaliza rentgenowskaiwrwiastków lekkich. Porównanie wyników metod korekcyjnych = A quantitative x-ray microanalysis of lihgt elements. Comparison of methods - Autorzy:
- Kaczyński Łukasz
- Współwytwórcy:
- Szummer Andrzej
- Data publikacji:
- 1988
- Wydawca:
- Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"
- Słowa kluczowe:
-
Elektronika - czasopismo - materiały
Materiały elektroniczne
x-ray microanalysis
Electronic materials
light element
mikroanaliza rentgenowska
pierwiastek lekki
Electronic - journal - material - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych
Książka