Temat: logic circuit - Prolib Integro

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "logic circuit" wg kryterium: Temat

Wyświetlanie 1-5 z 5

Zaznacz

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Projektowanie skończonego automatu stanów z wyjściami typu Mealy'ego z transformacją kodów obiektów w systemie funkcji wzbudzeń
Autorzy:: Barkalov, A. A.
Data publikacji:: 2006
Słowa kluczowe:: skończony automat stanów
jednostka sterująca
układ logiczny
układy programowalne
control unit
logic circuit
programmable logic device; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Design of Mealy Finite-state Machines with the Transformation of Object Codes
Autorzy:: Barkalov, A. A.
Barkalov, A. A. J.
Data publikacji:: 2005
Słowa kluczowe:: programowalny układ logiczny
automat skończony
bramka logiczna
finite state machine
programmable logic device
object
design
logic circuit; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Zmniejszenie zasobów sprzętowych w układach CPLD przy użyciu automatów Moore'a
Autorzy:: Barkalov, A.
Titarenko, L.
Chmielewski, S.
Data publikacji:: 2010
Słowa kluczowe:: automat Moore'a
jednostka sterująca
układ cyfrowy
układy programowalne
Moore finite-state-machine
control unit
logic circuit
programmable logic device; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Zmniejszenie zużycia makrokomórek PAL w realizacjach układowych automatów Moore'a
Autorzy:: Barkalov, A. A.
Titarenko, L.
Chmielewski, S.
Data publikacji:: 2010
Słowa kluczowe:: automat Moore'a
jednostka sterująca
układ cyfrowy
układy programowalne
Moore finite-state-machine
control unit
logic circuit
programmable logic device; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Część sprzętowa uniwersalnego stanowiska testującego
Autorzy:: Mocha, J.
Łaskarzewski, Z.
Data publikacji:: 2008
Słowa kluczowe:: testy wewnątrzobwodowe (ICT)
testowanie funkcjonalne
matryca wieloigłowa
ATE
mikrokontroler
układ programowalny
konwerter protokołów
Ethernet
In-Circuit Testing
ICT
functional testing
bed of nails
microcontroller
programmable logic device
protocol converter; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Wyświetlanie 1-5 z 5

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Informacja

Wyszukujesz frazę "logic circuit" wg kryterium: Temat