Wszystkie pola: microcontrollers

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Wykorzystanie przetworników A/C wbudowanych w mikrokontrolery do pomiarów parametrów sygnałów zmiennych
Autorzy:: Czaja, Z.
Data publikacji:: 2010
Słowa kluczowe:: mikrokontrolery
przetworniki A/C
samotestowanie
niepewność pomiarowa
microcontrollers
ADCs
self-testing
measurement uncertainty; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Realizacja samo-testowania części analogowych elektronicznych systemów wbudowanych z wykorzystaniem mikrokontrolerów rodziny XMEGA A
Autorzy:: Czaja, Z.
Data publikacji:: 2013
Słowa kluczowe:: mikrokontrolery
przetworniki A/C
samotestowanie
układy BIST
microcontrollers
ADCs
self-testing
measurement
BISTs; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: A method of self-testing of an analog circuit terminated by an ADC in electronic embedded systems controlled by microcontrollers
Autorzy:: Czaja, Z.
Data publikacji:: 2016
Słowa kluczowe:: self-testing
microcontrollers
analog to digital converters
samotestowanie
mikrokontrolery
przetworniki analogowo-cyfrowe; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Samotestowanie toru analogowego ze wzmacniaczem w pełni różnicowym w elektronicznych systemach wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami
Autorzy:: Czaja, Z.
Data publikacji:: 2014
Słowa kluczowe:: samotestowanie
mikrokontroler
wzmacniacze w pełni różnicowe
self-testing
microcontrollers
fully differential op-amps; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Diagnostyka uszkodzeń analogowych we wbudowanych systemach elektronicznych z wykorzystaniem interpretera logiki rozmytej
Autorzy:: Czaja, Z.
Załęski, D.
Data publikacji:: 2007
Słowa kluczowe:: detekcja uszkodzeń
lokalizacja uszkodzeń
samotestowanie
BIST
elektroniczne systemy wbudowane
mikrokontrolery
fault detection and localisation
self-testing
electronic embedded systems
microcontrollers; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Lokalizacja uszkodzeń w częściach analogowych wbudowanych systemów elektronicznych z uwzględnieniem tolerancji elementów
Autorzy:: Czaja, Z.
Data publikacji:: 2007
Słowa kluczowe:: detekcja uszkodzeń
lokalizacja uszkodzeń
samotestowanie
BIST
elektroniczne systemy wbudowane
mikrokontrolery
fault detection and localization
self-testing
electronic embedded systems
microcontrollers; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Informacja