- Tytuł:
- Pomiar twardości białej warstwy z wykorzystaniem SEM i nanoindentera
- Autorzy:
- Jóźwiak, K.
- Data publikacji:
- 2005
- Słowa kluczowe:
-
nanoindenter
elektronowy mikroskop skaningowy
biała warstwa
pomiar twardości
scaning electron microscope
white layer
hardnes measurements - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech