Wszystkie pola: Srivastava, Arvind Kumar

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Srivastava, Arvind Kumar" wg kryterium: Wszystkie pola

Wyświetlanie 1-1 z 1

Zaznacz

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) study of Heusler alloy (Co2FeAl) interfaced with semiconductor (n-Si) structure
Autorzy:: Kumar, Arvind
Srivastava, P. C.
Data publikacji:: 2019
Słowa kluczowe:: Co2FeAl
Heusler alloy
XPS
XRD
silicides; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Wyświetlanie 1-1 z 1

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Informacja

Wyszukujesz frazę "Srivastava, Arvind Kumar" wg kryterium: Wszystkie pola