Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "silicon PIN diode" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-3 z 3
Tytuł:
Charakteryzacja diod p-i-n wytworzonych metodą implantacji warstw epitaksialnych 4H-SiC jonami glinu
Autorzy:
Kwietniewski, N.
Pazio, K.
Sochacki, M.
Szmidt, J.
Droździel, A.
Kulik, M.
Prucnal, S.
Pyszniak, K.
Rawski, M.
Turek, M.
Żuk, J.
Data publikacji:
2009
Słowa kluczowe:
węglik krzemu
4H-SiC
implantacja
dioda PIN
źródło jonów
rozpraszanie Ramana
silicon carbide
implantation
PIN diode
ion source
Raman scattering
Pokaż więcej
Dostawca treści:
BazTech
Artykuł
    Wyświetlanie 1-3 z 3

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies