- Tytuł:
- Efekty niedopasowania tranzystorów MOS wykonanych w technologii VLSI
- Autorzy:
- Gryboś, P.
- Data publikacji:
- 2003
- Słowa kluczowe:
-
rozrzuty technologii VLSI
tranzystory MOS
specjalizowane układy scalone
matching
MOS transistor
integrated circuit - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech