- Tytuł:
- Automatic parametric fault detection in complex analog systems based on a method of minimum node selection
- Autorzy:
-
Bilski, A.
Wojciechowski, J. - Data publikacji:
- 2016
- Słowa kluczowe:
-
complex analog system
support vector machine (SVM)
tabu search
genetic algorithm
parametric fault detection
system analogowy
maszyna wektorów wspierających
metoda tabu search
algorytm genetyczny
detekcja uszkodzeń - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech
Artykuł