Wszystkie pola: Piątkowski, Marek - Prolib Integro

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Piątkowski, Marek" wg kryterium: Wszystkie pola

Wyświetlanie 1-4 z 4

Zaznacz

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: AFM studies of electron-stimulated desorption process of KBr(001) surface
Autorzy:: Piątkowski, Piotr
Such, Bartosz
Szymoński, Marek
Czuba, Paweł
Data publikacji:: 2000
Słowa kluczowe:: atomic force microscopy
insulating surfaces
radiation damage
alkali halides
electron stimulated desorption (ESD)
surface structure, morphology, roughness, and topography; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: STM/nc-AFM investigation of (n×6) reconstructed GaAs(0 0 1) surface
Autorzy:: Piątkowski, Piotr
Czuba, P.
Szymoński, Marek
Struski, P.
Such, Bartosz
Kołodziej, Jacek
Krok, Franciszek
Data publikacji:: 2003
Słowa kluczowe:: Gallium arsenide
surface structure, morphology, roughness, and topography
low index single crystal surfaces
atomic force microscopy
surface relaxation and reconstruction; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Frenkel defect interactions at surfaces of irradiated alkali halides studied by non-contact atomic-force microscopy
Autorzy:: Krok, F.
Bennewitz, R.
Struski, P.
Schär, S.
Piątkowski, Piotr
Meyer, E.
Czuba, Paweł
Szymoński, Marek
Such, Bartosz
Kołodziej, Jacek
Data publikacji:: 2001
Słowa kluczowe:: surface structure, morphology, roughness, and topography
electron–solid interactions
electron stimulated desorption (ESD)
alkali halides
atomic force microscopy; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Nano-scale modification of ionic surfaces induced by electronic transitions
Autorzy:: Czuba, P.
Kołodziej, Jacek
Krok, Franciszek
Such, Bartosz
Struski, P.
Szymoński, Marek
Piątkowski, Piotr
Data publikacji:: 2001
Słowa kluczowe:: radiation damage
surface modification
non-contact atomic force microscopy (NC-AFM)
surface structure, morphology, roughness, and topography
thin films
alkali halides
Frenkel defects
electron- and photon-stimulated desorption (PSD, ESD); Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Artykuł

na półce

Szczegóły

Wyświetlanie 1-4 z 4

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies