- Tytuł:
- Pomiary i analiza topografii powierzchni wzorców kontrolnych typu C przeznaczonych do sprawdzania profilometrów stykowych
- Autorzy:
-
Kapłonek, W.
Łukianowicz, C.
Nadolny, K.
Pawlikowski, R. - Data publikacji:
- 2011
- Słowa kluczowe:
-
wzorce kontrolne
topografia powierzchni
sprawdzanie profilometrów stykowych
pomiary optyczne
calibration specimens
surface topography
calibration of the stylus profilometers
optical measurements - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech
Artykuł