Temat: mikroskopia sil atomowych

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "mikroskopia sil atomowych" wg kryterium: Temat

Wyświetlanie 1-5 z 5

Zaznacz

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: A Comparison between Contact and Tapping AFM Mode in Surface Morphology Studies
Autorzy:: Bramowicz, M.
Kulesza, S.
Rychlik, K.
Data publikacji:: 2012
Słowa kluczowe:: mikroskopia sił atomowych
AFM
topografia powierzchni
atomic force microscopy (AFM)
surface topography; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Najnowsze zastosowania aplikacyjne mikroskopii sił atomowych
Autorzy:: Radkowski, B.
Data publikacji:: 2012
Słowa kluczowe:: mikroskopia sił atomowych
topografia powierzchni
przewodnictwo elektryczne
właściwości mechaniczne
atomic force microscopy (AFM)
surface topography
electrical conductivity
mechanical properties; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Description of Surface Topography of Metal Matrix Composite Castings
Autorzy:: Gawdzińska, K.
Bryll, K.
Gucma, M.
Pijanowski, M.
Data publikacji:: 2014
Słowa kluczowe:: metal matrix composites
surface topography
profilography
confocal microscopy
atomic force microscopy (AFM)
kompozyty metalowe
topografia powierzchni
profilograf
mikroskopia konfokalna
mikroskopia sił atomowych; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Badania doświadczalne zużycia główki endoprotezy stawu biodrowego ze stopu kobalt-chrom oraz z tlenku aluminium
Autorzy:: Leshchynsky, V.
Soifer, Y.
Wierusz-Kozłowska, M.
Markuszewski, J.
Woźniak, W.
Bielousova, O.
Weinert, H.
Data publikacji:: 2009
Słowa kluczowe:: endoprotezy stawu biodrowego
mechanizm zużycia
topografia powierzchni
mikroskopia sił atomowych
hip replacement prosthesis
wear mechanism
surface topography
atomic force microscopy (AFM); Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Atomic force microscopy with fractal studies of temperature induced changes in the surface topography of polymeric materials
Autorzy:: Rydzkowski, Tomasz
Kulesza, Sławomir
Bramowicz, Mirosław
Michalska-Pożoga, Iwona
Data publikacji:: 2020
Słowa kluczowe:: temperature
surface topography
polymeric materials
atomic force microscopy
fractal analysis
differential scanning calorimetry
low density polyethylene
recirculation
temperatura
topografia powierzchni
materiały polimerowe
mikroskopia sił atomowych
analiza fraktalna
różnicowa kalorymetria skaningowa
polietylen małej gęstości
recyrkulacja; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Wyświetlanie 1-5 z 5

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Informacja

Wyszukujesz frazę "mikroskopia sil atomowych" wg kryterium: Temat