- Tytuł:
- Reduced stress and fluctuation for the integrated α-Si TFT gate driver on the LCD
- Autorzy:
-
Huang, N. X.
Shiau, M. S.
Wu, H.-C.
Sun, R. C.
Liu, D.-G. - Data publikacji:
- 2010
- Słowa kluczowe:
-
sterownik bramy
fluktuacja hałasu
wpływ naprężenia
system w panelu
gate driver
fluctuation noise
stress effect
system on panel (SoP) - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech
Artykuł