- Tytuł:
- Low power BIST
- Autorzy:
- Puczko, M.
- Data publikacji:
- 2015
- Słowa kluczowe:
-
low power
BIST
test pattern generator
signature analyzer
test-per-scan
test-per-clock
power consumption - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech
Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.