- Tytuł:
- Examination of polymer/metal interface modified by self-assembled monolayer by Kelvin probe force microscopy and secondary ion mass spectrometry
- Autorzy:
-
Budkowski, Andrzej
Rysz, Jakub
Marzec, M. M.
Łużny, W.
Bernasik, A. - Data publikacji:
- 2013
- Słowa kluczowe:
-
Kelvin probe force microscopy
self-assembled monolayers
buried interface
secondary ion mass spectrometry
thin polymer film - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego
Artykuł